電路板維修這一經(jīng)驗非常值得學習!
作者:admin 發(fā)布日期:2024/4/26 關注次數(shù):
二維碼分享
電路板維修這一經(jīng)驗非常值得學習!
一.帶程序的芯片
EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序,??故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著??時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要??盡可能給以備份.?
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片??是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定??論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過??多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電??所致.?
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.??
二.復位電路?
待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應注意復位問題.??
2.在測試前最好裝回設備上,反復開,關機器試一試.以及多按幾次復位鍵.?
三.功能與參數(shù)測試??
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不??能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.??
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無??法查出它的上升與下降沿的速度.??
四.晶體振蕩器??
通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,??否則只能采用代換法了.??
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電??容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.??
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關??芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.?
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨??意短路.?
五.故障現(xiàn)象的分布??
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%,?2)分立元件損壞30%,??3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%,?4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).??2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
2、采用排除法對器件進行測試對器件進行在線測試或比較過程中,凡是測試通過(或比較正常)的器件,請直接確認測試結果,以便記錄;對測試未通過(或比較超差)的,可再測試一遍,若還是未通過,也可先確認測試結果,就這樣一直測試下去,直到將板上的器件測試(或比較)完,然后再回過頭來處理那些未通過測試(或比較超差)的器件。對未通過功能在線測試的器件,儀器還提供了一種不太正規(guī)卻又比較實用的處理方法,由于儀器對電路板的供電可以通過測試夾施加到器件相應的電源與地腳,若對器件的電源腳實施刃割,則這個器件將脫離電路板供電系統(tǒng),這時再對該器件進行在線功能測試,由于電路板上的其他器件將不會再起干擾作用,實際測試效果等同于“準離線”,測準率將獲得很大提高。?
更多西安電路板維修和西安機床維修資訊請關注陜西尚崴機電科技有限公司,公司官網(wǎng):http://www.humankinetics.com.cn/
一.帶程序的芯片
EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序,??故在測試中不會損壞程序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著??時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要??盡可能給以備份.?
2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片??是否在使用<測試儀>進行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定??論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過??多次試驗,可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電??所致.?
3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.??
二.復位電路?
待修電路板上有大規(guī)模集成電路時,應注意復位問題.??
2.在測試前最好裝回設備上,反復開,關機器試一試.以及多按幾次復位鍵.?
三.功能與參數(shù)測試??
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不??能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.??
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無??法查出它的上升與下降沿的速度.??
四.晶體振蕩器??
通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,??否則只能采用代換法了.??
2.晶振常見故障有:a.內部漏電,b.內部開路c.變質頻偏d.外圍相連電??容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應能測出.??
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關??芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.?
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨??意短路.?
五.故障現(xiàn)象的分布??
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%,?2)分立元件損壞30%,??3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%,?4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).??2.由上可知,當待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
2、采用排除法對器件進行測試對器件進行在線測試或比較過程中,凡是測試通過(或比較正常)的器件,請直接確認測試結果,以便記錄;對測試未通過(或比較超差)的,可再測試一遍,若還是未通過,也可先確認測試結果,就這樣一直測試下去,直到將板上的器件測試(或比較)完,然后再回過頭來處理那些未通過測試(或比較超差)的器件。對未通過功能在線測試的器件,儀器還提供了一種不太正規(guī)卻又比較實用的處理方法,由于儀器對電路板的供電可以通過測試夾施加到器件相應的電源與地腳,若對器件的電源腳實施刃割,則這個器件將脫離電路板供電系統(tǒng),這時再對該器件進行在線功能測試,由于電路板上的其他器件將不會再起干擾作用,實際測試效果等同于“準離線”,測準率將獲得很大提高。?
3、用ASA-VI曲線掃描測試對測試庫尚未涵蓋的器件進行比較測試由于ASA-VI智能曲線掃描技術能適用于對任何器件的比較測試,只要測試夾能將器件夾住,再有一塊參照板,通過對比測試,同樣對器件具備較強的故障偵測能力。
該功能彌補了器件在線功能測試要受制于測試庫的不足,拓展了儀器對電路板故障的偵測范圍?,F(xiàn)實中往往會出現(xiàn)無法找到好板做參照的情景,而且待修板本身的電路結構也無任何對稱性,在這種情況下,ASA-VI曲線掃描比較測試功能起不了作用,而在線功能測試由于器件測試庫的不完全,無法完成對電路板上每一個器件都測試一遍,電路板依然無法修復,這兒就是電路在線維修儀的局限,就跟沒有包治百病的藥一樣。
由于電路在線維修儀目前只能對電路板上的器件進行功能在線測試和靜態(tài)特征分析,是否完全修好必須要經(jīng)過整機測試檢驗。
因此,在檢驗時最好先檢查一下設備的電源是否按要求正確供給到電路板上。
更多西安電路板維修和西安機床維修資訊請關注陜西尚崴機電科技有限公司,公司官網(wǎng):http://www.humankinetics.com.cn/
- 上一篇:維修電路板,怎能沒有狠招?一定要看過來
- 下一篇:電路板維修這三個方法一定要知道!